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支持各種CAD/Gerber數據源

Test Expert能夠支持各種CAD數據源,如Cadence Allegro/OrCAD, Mentor, PowerPCB, Altium/Protel, Zuken, ODB++, GenCAD, Accel, Unidat等。
如果沒有CAD數據源,您也可以利用VayoPro軟件(獨立模塊)轉換Gerber進行分析。

 
 
 
 

測試選針優化

豐富靈活、直觀明晰的選針設置及行業最優的測試優化算法,保證了最佳的測試選針結果。您不但可以詳細設定規則細節(大小、距離、種類、數量、優先級、強制位置等),還可以設置不同的多個選針規則系列,同時生成不同的結果用于比較差異。

 
 
 
 

交互結果查詢

在瀏覽結果時,您不但可以看到不可測原因歸類,還可以互動切換到PCB視圖位置,更直觀了解情況,快速制定調整方案。

測試驗證及可測率優化提升

有時用于PCB制作的Gerber會與PCB CAD不一致,導致測試點被阻焊層覆蓋。Test Expert支持導入額外的Mask層Gerber,驗證下針位置接觸性,對于被覆蓋的測試位置可以重新定位。另外,Test Expert獨有的Net Link功能可以幫您快速發現歐姆電阻、保險絲、開關等”連通”的網絡,優化合并網絡,從而提升測試網絡覆蓋率/可測率;或者保持同意測試覆蓋率的前提下,減少測試用針,降低夾具成本。

行業內容最豐富的DFT/testability報告

Test Expert可測試性報告包含豐富的內容:測試覆蓋率百分比、測試網絡詳細報告、未測試網絡詳細報告、元器件報告、引腳下針覆蓋報告、并聯分析報告等;而且可以輸出為不同文件格式:文本、PDF、Excel及Html。

ICT/MDA程序輸出、測試夾具制作

強大的夾具設計功能,可以讓您設計出最優化的夾具,輸出各種夾具鉆孔繞線等數據文檔;同時可以生成各種MDA/ICT/ATE精細測試程序,支持的測試設備有Keysight/Agilent, Teradyne/GenRad, Spea, TRI, Checksum, MTS, JET, Hioki, Areaflex/IFR, SRC, …

智能飛針測試程序制作

Test Expert輸出飛針測試程序時,可以產生非常豐富的測試步驟,減少調整時間。同時您也可以批量調整參數如測試針偏移,自動產生open-check sensor位置數據等,使得輸出的測試步驟更精細。無論您的飛針測試設備是TAKAYA, SPEA, HIOKI, SEICA, 還是Acculogic, 您都可以在VayoPro-Test Expert找到輸出接口,快速生成測試程序。

快速AXI/AOI檢查設備編程

Test Expert可以生成各種X-Ray及AOI自動測試設備程序,如Agilent 5DX/SJ50, ViTrox V810 &V510, Omron, Vi Technology, Orbotech, Viscom, TRI, Landrex, …

功能列表及商業價值

望友團隊專注于Test Expert軟件的各項功能提升及技術革新,期望可以為望友客戶帶來物超所值的投資回報。

客戶評語

產品介紹、視頻及輸出數據/報告

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